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NanoPhotonics向ISMI出貨450mm晶圓檢測設(shè)備

作者: 時間:2009-02-20 來源:SEMI 收藏
        據(jù)Semiconductor International網(wǎng)站報道,簽訂合約,將向出貨兩臺用于450mm的缺陷檢測設(shè)備。

        這兩臺設(shè)備分別是Reflex MC 450和BevelCam MC 450,兩臺設(shè)備將和450mm設(shè)備前端模塊一同集成于 450mm協(xié)同測試試驗臺。

本文引用地址:http://www.sanyacts.com.cn/article/91436.htm


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